Search

Nanodeeltjes Analyse NANOTRAC WAVE II

Offerte-aanvraag
Gegevensblad

Taal:

De NANOTRAC Wave II / Zeta van Microtrac is een zeer flexibele nanodeeltjesgrootte-analyser op basis van Dynamische Licht Verstrooiing (DLS=Dynamic Light Scattering) die informatie geeft over deeltjesgrootte, concentratie en molecuulgewicht. Het maakt snellere metingen mogelijk met betrouwbare technologie, hogere precisie en betere nauwkeurigheid. Dit alles gecombineerd in een compacte DLS-analyser met een revolutionaire vaste optische sonde.

Met het unieke en flexibele sondeontwerp en het gebruik van de Laser Versterkte Detectie-methode in de NANOTRAC FLEX, kan de gebruiker eender welke container kiezen als meetcel om aan de behoeften van elke toepassing te voldoen. Dit ontwerp maakt ook metingen mogelijk van monsters over een breed concentratiebereik, monomodale of multimodale monsters, allemaal zonder voorafgaande kennis van de deeltjesgrootteverdeling. Dit wordt mogelijk gemaakt door het gebruik van Frequentie Vermogens Spectrum (Frequency Power Spectrum = FPS) -methode in plaats van de klassieke Photon Correlation Spectroscopy (PCS).

Nanodeeltjes Analyse NANOTRAC WAVE II / ZETA Ideaal voor Analyse van Nanodeeltjes en Zetapotentiaal

Principe

Nanodeeltjes Analyse NANOTRAC WAVE II / ZETA Typische Toepassingen

Universele inzetbaarheid is een grote sterkte van Dynamische Licht Verstrooiing (DLS). Dit maakt de methode geschikt voor diverse toepassingen voor zowel onderzoek als industrie, zoals geneesmiddelen, colloïdale suspensies, micro-emulsies, polymeren, industriële mineralen, inkten en nog vele andere.

pharmaceuticals

farmaceutica

  • farmaceutica
  • inkten
  • life sciences
  • keramiek
  • dranken & voedsel
 emulsies

emulsies

  • colloidale suspensies
  • polymeren
  • micro-emulsies
  • cosmetica
  • chemicaliën
staal

staal

  • milieu
  • zelfklevers
  • metalen
  • industriële mineralen

    ... en meer!

Intuitive Use With Just a Few Clicks DIMENSIONS LS for NANOTRAC Series

The DIMENSIONS LS software comprises five clearly structured Workspaces for easy method development and operation of the NANOTRAC instrument. Results display and evaluation of multiple analyses are possible in the corresponding workspaces, even during ongoing measurements.

  • Simple method development
  • Clearly structured result presentation
  • Various evaluation options
  • Intuitive workflow
  • Extensive data export
  • Multi-user capability
.

Citations

Our instruments are recognized as the benchmark tools for a wide range of application fields in science and research. This is reflected by the extensive citations in scientific publications. Feel free to download and share the articles provided below.

Nanodeeltjes Analyse NANOTRAC WAVE II / ZETA Technische Gegevens

MethodeWeerkaatst laser-versterkt verstrooiingsreferentie methode
BerekeningsmodelFFT power spectrum
Metingshoek180°
Meetbereik0.3 nm - 10 µm
MeetcelVerschillende monster cel opties
Zeta potentiaal analyseja
Zeta meetbereik (potentiaal)-200 mV - +200 mV
Zeta meetbereik (grootte)10 nm - 20 µm
Electroforetische mobiliteit0 - 15 (µm/s) / (V/cm)
Conductiviteitsmetingja
Conductiviteitsbereik0 - 10 mS / cm
Moleculair gewicht metingja
Moleculair gewicht bereik<300 Da -> 20 x 10^6 Da
Temperatuursbereik+4°C - +90°C
Temperatuursnauwkeurigheid± 0.1°C
Temperatuurscontroleja
Temperatuur controle bereik+4°C - +90°C
Titratieja
Reproduceerbaarheid (grootte)=< 1%
Reproduceerbaarheid (zeta)+ / - 3%
Monster volume grootte meting50 µl - 3 ml
Monster volume zeta meting150 µl - 2 ml
Concentratie-metingja
Monster concentratietot 40 % (monster-afhankelijk)
MeetvloeistoffenWater, polaire en apolaire organische solventen, zuren en basen
Laser780 nm, 3 mW; 2 laser diodes met zeta
Vochtigheid90 % niet-condenserend
Afmetingen (B x H x D)355 x 381 x 330 mm

De optische bank van de nanodeeltjesgrootte-analyser NANOTRAC WAVE II is een sonde die een optische vezel bevat die is gekoppeld aan een Y-splitter. Laserlicht wordt gefocust op een monstervolume op het grensvlak van het sondevenster en de dispersie. Het saffiervenster met hoge reflectiviteit reflecteert een deel van de laserstraal terug naar een fotodiodedetector. Het laserlicht dringt ook door de dispersie en het verstrooide licht van de deeltjes reflecteert 180 graden terug naar dezelfde detector.

Het verstrooide licht van het monster heeft een laag optisch signaal ten opzichte van de gereflecteerde laserstraal. De gereflecteerde laserstraal vermengt zich met het verstrooide licht van het monster, waardoor de hoge amplitude van de laserstraal wordt opgeteld bij de lage amplitude van het ruwe verstrooiingssignaal. Deze laserversterkte detectiemethode biedt tot 106 keer de signaal-ruisverhouding van andere DLS-methoden zoals Photon Correlation Spectroscopy (PCS, of foton-correlatie-spectroscopie) en NanoTracking (NT).

Een Fast Fourier Transform (FFT=snelle Fourrier transformatie) van het Laser Versterkte Detectie-signaal resulteert in een lineair frequentie-vermogensspectrum dat vervolgens wordt omgezet in logaritmische gegevens en gedeconvolueerd om de resulterende deeltjesgrootteverdeling te geven. Gecombineerd met Laser Versterkte Detectie, biedt deze berekening van het frequentie-vermogensspectrum een ​​robuuste berekening van alle soorten deeltjesgrootteverdelingen - smal, breed, mono- of multimodaal - zonder dat a priori informatie nodig is voor algoritme-aanpassing zoals bij PCS.

De Laser Versterkte Detectie-methode van Microtrac wordt niet beïnvloed door signaalafwijkingen als gevolg van verontreinigingen in het monster. Klassieke PCS-instrumenten moeten het monster filteren of gecompliceerde meetmethoden creëren om deze signaalafwijkingen te elimineren.

Dynamische Laser Licht Verstrooiing - Principe

1. Detector |  2. Gereflecteerde oorspronkelijke laserstraal & verstrooid licht |  3. Safier venster |  4. Y-straal splitter |  5. GRIN lens |  6. Monster | 7. Laser straal in optische vezel |  8. Laser

Iteratieve Deeltjes Grootte Bereking uit het Vermogens Spectrum

1. Schatting deeltjesgrootte verdeling | 2. Berekening geschatte deeltjesgrootte | 3. Foutberekening in deeltjesgrootte | 4. Correctie geschatte verdeling | 5. Herhaling 1-4 totdat fout geminimaliseerd is | 6. Minimale fout distributie is best-passend

Onder voorbehoud van technische wijzigingen en eventuele fouten